SX1934D型二合一數(shù)字式四探針測試計(jì) 
 產(chǎn)品說明 
SX1934D型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低、中值電阻進(jìn)行測量，適用于半導(dǎo)體、太陽能行業(yè)的篩選。 
產(chǎn)品特點(diǎn) 
 　　儀器由主機(jī)、測試探頭（可選配測試臺(tái)）等部分組成，測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)(自動(dòng)調(diào)零)。可鑒別半導(dǎo)體PN類別。

詳細(xì)參數(shù)